AQ6373E 可見光波長光譜分析儀

• 三種適用于短波長范圍應(yīng)用的型號：標準、高分辨率、有限

• 波長范圍：350 - 1200 nm（所有型號）

• 波長分辨率

• 標準：0.02 nm - 10 nm

• 高分辨率：0.01 nm - 10 nm（0 - 01 nm 為 350.600 nm）

• 限量：0.1 nm - 5 nm

• 波長精度

• 標準：±0.05 nm （633 nm）、±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 高分辨率：±0.05 nm （633 nm）、±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 限量：±0.05 nm （633 nm）， ±0.2 nm （400 - 1100 nm）

• 近距離動態(tài)范圍

• 標準：60 dB （λPK公司± 0.5 nm）

• 高分辨率：60 dB （λPK公司± 0.5 nm）

• 限制：45 dB （λPK公司± 0.5 nm）

• 敏感性

• 標準：-80 dBm （500 - 1000 nm）

• 高分辨率：-80 dBm （500 - 1000 nm）

• 限制：-70 dBm （500 - 1000 nm）

• 測量水平范圍

• 標準：100 dB （-80 - +20 dBm）

• 高分辨率：100 dB （-80 - +20 dBm）

• 限制：90 dB （-70 - +20 dBm）

• 最大安全輸入功率：+20 dBm（550 至 1100 nm）+10 dBm（400 至 550 nm）（總輸入功率）

• 單模、多模和大芯光纖

• 內(nèi)置光學(xué)對準源

• 使用外部參考源進行波長校準

• 各種分析功能，包括可見光的顏色分析

高分辨率和高動態(tài)范圍
先進的單色器可實現(xiàn)高波長分辨率和高近距離動態(tài)范圍。憑借單色儀更清晰的光譜特性，可以清晰地分離和準確測量近距離的光譜信號。

高靈敏度
可以準確快速地測量微弱的光信號。

七種靈敏度設(shè)置*
靈敏度設(shè)置可根據(jù)測試應(yīng)用和測量速度要求進行選擇。
*限量版除外

高動態(tài)模式
通過減少雜散光的影響，可以改善動態(tài)范圍，雜散光是輸入強光信號時引起的。

峰值保持和外部觸發(fā)模式：
脈沖光信號的脈沖峰值光譜是可測量的。常用于電信系統(tǒng)的傳輸環(huán)路測試，也用于激光芯片開發(fā)早期的低功耗測量，以捕捉脈沖信號的峰值功率。

可用空間輸入
可用空間輸入支持同一 OSA 上的多模和單模光纖，輸入連接器的插入損耗變化很小，可提高測量的可重復(fù)性。由于沒有物理接觸，因此在連接光纖時不會造成損壞。此功能支持 SM、GI（50/125 μm、62.5/125 μm）和高達 800 μm 的大芯光纖。

Optical Input Structure

快速掃描
憑借先進的單色器、更快的電路和降噪技術(shù)，即使在測量 DFB-LD 信號的陡峭光譜或測量來自寬帶光源的低功率信號時，該AQ6373E也能實現(xiàn)快速的測量速度。

高分辨率
的寬跨度掃描 200,001 個數(shù)據(jù)采樣點在一次掃描中擴展了測量范圍，同時保持了高波長分辨率。與使用少量采樣點且需要多次局部測量以覆蓋整個波長范圍的傳統(tǒng)系統(tǒng)相比，這使得您的測量更輕松、更高效。

易于維護
精度 環(huán)境條件的變化、振動和光學(xué)精密產(chǎn)品（如光譜分析儀）的沖擊會影響光學(xué)元件并最終降低光學(xué)性能。使用標準功能，AQ6373E可以在幾分鐘內(nèi)保持其高光學(xué)性能，從而實現(xiàn)快速啟動測量。

光學(xué)對準
使用內(nèi)置光源自動對準單色器中的光路，以保持高性能。

波長校準
使用外部光源自動校準光譜分析儀，以確保波長精度。

內(nèi)置光學(xué)對準源
波長校準需要外部光源。需要 GI 50/125μm 光纖以及定期校準。在某些情況下，光學(xué)對準和波長校準功能無法校正光學(xué)性能。

縮略圖文件預(yù)覽
從內(nèi)部和外部存儲中的數(shù)千個文件中輕松找到特定文件。

USB 端口
四個 USB 端口便于使用外部設(shè)備，例如鼠標、鍵盤、外部硬盤驅(qū)動器和記憶棒。

大型觸摸屏 LCD
響應(yīng)靈敏的高分辨率 10.4 英寸多點觸控電容式觸摸屏使設(shè)備操作更簡單、更直觀。更改測量條件、執(zhí)行分析和更改光譜視圖，就像操作平板電腦設(shè)備一樣。在光譜視圖中，只需輕按和拖動即可縮放或移動波形視圖。